涂層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。用戶可以根據測量的需要選用不同的涂層測厚儀磁性測厚儀和渦流測厚儀一般測量的厚度適用0-5毫米這類儀器又分探頭與主機一體型探頭與主機分離型前者操作便捷后者適用于測非平面的外形。更厚的致密材質材料要用超聲波測厚儀來測測量的厚度可以達到0.7-250毫米。電解法測厚儀適合測量很細的線上面電鍍的金，銀等金屬的厚度。
影響涂層測厚儀監測的誤差有哪些呢？
a基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
b基體金屬電性質
基體金屬的電導率對測量有影響而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。
c邊緣效應
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。
d基體金屬磁性質
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的）為了避免熱處理和冷加工因素的影響應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。
e曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形因此在這些試件上測出可靠的數據。
g表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差每次測量時在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后再校對儀器的零點。
h磁場
周圍各種電氣設備所產生的強磁場會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
i附著物質
涂層測厚儀對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此必須清除附著物質以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
j測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數因此，要保持壓力恒定。
k測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響。在測量中應當使測頭與試樣表面保持垂直。
這就是影響涂層測厚儀的一些因素。
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