涂層測厚儀采用無損檢測方法測厚既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，故能使大量的檢測工作經濟地進行。在化工，電子，電力，金屬等行業中，為了實現對各類材料的保護或裝飾作用，通常采用噴涂有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法，這樣便出現了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學生成膜等概念，我們稱之為“覆層”。
覆層的厚度測量已成為金屬加工工業已用戶進行成品質量檢測*的zui重要工序。是產品達到標準的*手段。目前，國內外已普遍按統一的標準測定涂鍍層厚度，覆層無損檢測的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質研究方面的逐漸進步而更加至關重要。
有關覆層無損檢測方法，主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產品或產品表面，系有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線反射法可以無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍小。因有放射源，故，使用者必須遵守射線防護規范，一般多用于各層金屬鍍層的厚度測量。
電容法一般僅在很薄導電體的絕緣覆層厚度測試上應用。
涂層測厚儀的校準方法：
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標準片。簡稱標準片。
⒈ 校準箔
對TT220涂層測厚儀“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。“箔”有利于曲面上的校準。
⒉ 有覆蓋層的標準片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結合的覆蓋層作為標準片。對于涂層測厚儀，覆蓋層應是非磁性的。
涂層測厚儀使用方法和技巧
在使用涂層波測厚儀時注意對儀器的操作步驟及使用技巧，可以大大增加涂層測厚儀的使用壽命和測量的準確度。涂層測厚儀使用注意事項：
1，使用涂層測厚儀測量時，探頭一定要垂直于被測物的表面；2，測量時不要拖動探頭，因為這樣不僅對探頭會造成磨損，也不會得到準確的測量結果；3，測量時探頭線在銜接探頭的位置不能過分彎曲及抖動（針對分體式涂層測厚儀），這樣會影響測試效果，從而得不到準確而穩定的測量結果；4，盡量保證涂層測厚儀為專人使用和保管；5如感覺測量結果偏差比較大時，請先用隨機配備的五片塑料校準片做一輪測試，如偏離允許誤差較遠則有可能是儀器本身出了問題，需返廠檢修，切記不可自行拆卸自行維修。
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